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Nr. Titel Autor Jahr
1 Characterisation of MOS Transistors as an Electromechanical Transducer for Stress Hafez, Nessma Ibrahim Kamel* et al. 2019
2 Novel negative tone spray-coatable photoresist for photolithography processing over high topographical steps Arnold, Markus et al. 2017
3 Spray-coatable negative photoresist for high topography MEMS applications Arnold, Markus* et al. 2017
4 Direktintegrierte Feldeffekttransistoren als elektromechanische Wandler für mechanische Spannungen an Balkenstrukturen Haas, Sven et al. 2016
5 Electrical Analysis of Integrated Field Effect Transistors as Electromechanical Transducer for Stress Hafez, Nessma et al. 2016
6 Elektrische Analyse von integrierten Feldeffekttransistoren als elektromechanische Wandler für mechanische Spannung Hafez, Nessma et al. 2016
7 Novel through silicon wiring technology using dry etched sloping vertical terminals Haas, Sven* et al. 2016
8 Stress Analysis in Semiconductor Devices by Kelvin Probe Force Microscopy Sheremet, Evgeniya et al. 2016
9 Direct integrated strain sensors for robust temperature behaviour Haas, Sven et al. 2015
10 RF MEMS Switch for Modulated Backscatter Communication Gaitzsch, Markus et al. 2015
11 Analysis of Au metal–metal contacts in a lateral actuated RF MEMS switch Gaitzsch, Markus et al. 2014
12 Direct Integration of Field Effect Transistors as Electro Mechanical Transducer for Stress Haas, Sven et al. 2014
13 Integration von MOS-Transistoren als Wandler für mechanische Spannungen Schramm, Michael et al. 2014
14 Analysis of metal-metal contacts in RF MEMS switches Kurth, Steffen et al. 2013
15 Direktintegration von Feldeffekttransistoren als elektromechanische Wandler für mechanische Spannungen Haas, Sven et al. 2013
16 Studies on the piezoresistive effect in MOS transistors for use in integrated MEMS sensors Haas, Sven et al. 2013
17 Out of plane capacitive transducer in air gap insulation microstructures technology for high precision monolithic 3-axis sensors Reuter, Danny et al. 2012
18 Untersuchungen zum piezoresistiven Effekt in MOS-Transistoren für die Anwendung in integrierten MEMS-Sensoren Haas, Sven et al. 2012
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