Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Waechtler, Thomas ; Ding, S.-F. ; Hofmann, Lutz ; Mothes, R. ; Xie, Q. ; Oswald, S. ; Detavernier, C. ; Schulz, S.E. ; Qu, X.-P. ; Lang, H. ; Gessner, Thomas
ALD-grown seed layers for electrochemical copper deposition integrated with different diffusion barrier systems.
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut 1: | Zentrum für Mikrotechnologien (ZfM) | |
Institut 2: | Professur Smart Systems Integration | |
Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
ISBN/ISSN: | ISSN 0167-9317 | |
URL/URN: | doi:10.1016/j.mee.2010.07.004 | |
Quelle: | In: Journal Microelectronic Engineering. - 2010 |