Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Mysore, Madhu Lakshman* ; Maitra, Abhishek ; Basler, Thomas ; Lutz, Josef ; Baburske, Roman ; Niedernostheide, Franz-Josef ; Schulze, Hans-Joachim ; Pfirsch, Frank
Study of Different Parameters Influencing the IGBT and Diode Robustness Under Short-Circuit Type III Conditions
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0026-2714 | |
| DOI: | doi:10.1016/j.microrel.2023.115062 | |
| URL/URN: | https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0026271423001622?via%3Dihub | |
| Quelle: | 34thEuropean Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), 02.10.2023 - 05.10.2023, Toulouse, France, Pages 1-87. - Microelectronics Reliability : Elsevier, 2023, 115062 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | IGBT , Short-Circuit type III , Current Filaments , Diode dynamic avalanche failure , Diode Overvoltage failure , Robustness |
