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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Liu, Xing* ; Kowalsky, Jens ; Herrmann, Clemens ; Bäumler, Christian ; Lutz, Josef

The Influence of the gate driver and common source inductance on the short circuit behavior of IGBT modules and protection


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Artikel in Fachzeitschrift, referiert
ISBN/ISSN: 0885-8993 ; 1941-0107
DOI: doi:10.1109/tpel.2020.2981427
URL/URN: https://ieeexplore.ieee.org/document/9039688?source=authoralert
Quelle: In: IEIEEE Transactions on Power Electronics. - Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). - 35.2020, 10, S. 10789 - 10798
Freie Schlagwörter (Englisch): IGBT , Short circuit , Clamping circuit , Protection

 

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