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Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Brückner, John ; Dehe, A. ; Auerswald, Ellen ; Dudek, Rainer ; Rzepka, Sven ; Michel, Bernd ; Wunderle, Bernhard
IEEE

Statistical Strength Investigation of Poly-Silicon Membranes using Microscopic Loading Tests and Numerical Simulation


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Werkstoffe und Zuverlässigkeit mikrotechnischer Systeme
Dokumentart: Konferenzbeitrag, nicht referiert
ISBN/ISSN: ISBN: 978-2-35500-028-7
Quelle: DTIP, Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS 01-04 April 2014, Cannes, France. - EDA Publishing/DTIP 2014. S. 332-337- IEEE Catalog Number: CFP14DTI-PRT
Freie Schlagwörter (Deutsch): Festigkeit Polysilizium membranen , MEMS Zuverlässigkeit , Si-Mikrofone
Freie Schlagwörter (Englisch): Strength polysilicon membranes , MEMS reliability , Si-microphones

 

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