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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Maitra, Abhishek* ; Mysore, Madhu Lakshman ; Bäumler, Christian ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas

Understanding Snap-Off Phenomenon during Reverse Recovery in SiC MOSFET Body Diodes


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: Electronic ISBN: 979-8-3315-5734-8 ; Print on Demand(PoD) ISBN: 979-8-3315-5735-5
DOI: doi:10.1109/isps65707.2025.11189968
Quelle: 17th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS), 27-29 August 2025, Prague, Czech Republic. - IEEE, 2025
Freie Schlagwörter (Englisch): Reverse recovery , Body diode , Snap-off , Dead-time , SiC MOSFET , pin diode

 

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