Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Boldyrjew-Mast, Roman* ; Heimler, Patrick ; Liu, Xing ; Reiter, Kristiane ; Schwabe, Christian ; Thönelt, Nick ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
Study of the Bias Driven Threshold Voltage Drift of 1.2 kV SiC MOSFETs in Power Cycling and High Temperature Gate Bias Tests
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISSN print 1012-0394 ; ISSN cd 1662-9787 ; ISSN web 1662-9779 | |
| DOI: | doi:10.4028/p-s5n0pk | |
| Quelle: | In: Solid State Phenomena. - Trans Tech Publications, Ltd. - 361. 2024, S. 13 - 20 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Bias-Temperature Instability , High Temperature Gate Bias , Power Cycling Test , Threshold Voltage , SiC MOSFETs | |
| OA-Lizenz | CC BY 4.0 |
