Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Yijun, Ye ; Hensler, Alexander ; Botazzoli, Pietro ; Bigl, Thomas ; Schmidt, Ralf ; Basler, Thomas ; Lutz, Josef
Surge Current Test of SiC MOSFET with Planar Assembly and Joining Technology
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Print ISBN:978-3-8007-6288-0 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/document/10564741 | |
| Quelle: | 13th International Conference on Integrated Power Electronics Systems, CIPS 2024, Düsseldorf, 12-14 March 2024, pp. 592-597 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Surge Current , SiC , Interconnection Technology |
