Ergebnis der Datenbankabfrage
| Nr. | Titel | Autor | Jahr |
|---|---|---|---|
| 1 | Surge Current Test of SiC MOSFET with Planar Assembly and Joining Technology | Yijun, Ye et al. | 2024 |
| 2 | Thermal Behavior of SiC MOSFET with Planar Packaging Technology | Ye, Yijun et al. | 2024 |
| Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
| Anzahl der Dokumente: | 2 |