Springe zum Hauptinhalt
Universitätsbibliothek
Universitätsbibliographie
Universitätsbibliothek 

Ergebnis der Datenbankabfrage

Nr. Titel Autor Jahr
1 Surge Current Test of SiC MOSFET with Planar Assembly and Joining Technology Yijun, Ye et al. 2024
2 Thermal Behavior of SiC MOSFET with Planar Packaging Technology Ye, Yijun et al. 2024
Aktuelle Seite:
Anzahl der Ergebnisseiten: 1
Anzahl der Dokumente: 2

Soziale Medien

Verbinde dich mit uns: