Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Mysore, Madhu Lakshman* ; Basler, Thomas ; Baburske, Roman ; Niedernostheide, Franz-Josef ; Schulze, Hans-Joachim ; Pfirsch, Frank
Investigation of the IGBT’s and Diode’s Ruggedness Under Short-Circuit Type III Conditions Well Beyond the SOA
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Förderung: | Industrie/Wirtschaft | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-3-8007-6091-6 | |
| DOI: | doi:10.30420/566091305 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/document/10173401 | |
| Quelle: | PCIM Europe 2023, 09-11 May 2023, Nuremberg, Germany, pp. 2201-2210. - VDE, 2023 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | IGBT, Short-Circuit type III, Current Filaments, Diode dynamic avalanche failure, Diode Overvoltage failure, Robustness |
