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Nr. Titel Autor Jahr
1 SILIZIUMCARBID-HALBLEITERBAUELEMENT Basler, Thomas et al. 2020
2 Bipolares Halbleiterbauelement und Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterdiode Lutz, Josef et al. 2018
3 A SiC Trench MOSFET concept offering improved channel mobility and high reliability Siemieniec, Ralf* et al. 2017
4 Performance and ruggedness of 1200V SiC — Trench — MOSFET Peters, Dethard* et al. 2017
5 The New CoolSiC(TM)Trench MOSFET Technology for Low Gate Oxide Stress and High Performance Peters, Dethard* et al. 2017
6 Verfahren zur Herstellung eines Leistungsbauelements mit einer vergrabenen n-dotierten Halbleiterzone und Leistungsbauelement Lutz, Josef et al. 2014
7 A bipolar semiconductor component with a fully depletable channel zone Baburske, Roman et al. 2013
8 Surge-Current Resistant Semiconductor Diode with Soft Recovery Behaviour and Methods for Producing a Semiconductor Diode Baburske, Roman et al. 2013
9 Stoßstromfeste Halbleiterdiode mit weichem Abschaltverhalten und Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterdiode Baburske, Roman et al. 2012
10 Verfahren zur Herstellung einer vergrabenen n-dotierten Halbleiterzone in einem Halbleiterkörper und Halbleiterbauelement Schulze, Hans-Joachim et al. 2012
11 SEMICONDUCTOR DIODE RESISTIVE TO SURGE CURRENT WITH SOFT RECOVERY BEHAVIOR, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME Baburske, Roman et al. 2011
12 A new diode structure with inverse injection dependency of emitter efficiency (IDEE) Baburske, Roman et al. 2010
13 The Trade-Off between Surge-Current Capability and Reverse-Recovery Behaviour of High-Voltage Power Diodes Baburske, Roman et al. 2010
14 Verfahren zur Herstellung einer vergrabenen n-dotierten Halbleiterzone in einem Halbleiterkörper und Halbleiterbauelement Siemieniec, Ralf et al. 2006
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