Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Peters, Dethard* ; Siemieniec, Ralf ; Aichinger, Thomas ; Basler, Thomas ; Esteve, Romain ; Bergner, Wolfgang ; Kueck, Daniel
Performance and ruggedness of 1200V SiC — Trench — MOSFET
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut: | Professur Leistungselektronik | |
Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
ISBN/ISSN: | 1946-0201 ; Electronic ISBN: 978-4-88686-096-5 ; Print ISBN: 978-4-88686-094-1 ; USB ISBN: 978-4-88686-095-8 ;Print on Demand(PoD) ISBN: 978-1-5090-5172-4 | |
DOI: | doi:10.23919/ISPSD.2017.7988904 | |
Quelle: | 29th International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's (ISPSD), 28 May-1 June 2017, Sapporo, Japan | |
Freie Schlagwörter (Englisch): | SiC MOSFET , Ruggedness |