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Universitätsbibliothek
Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Peters, Dethard* ; Siemieniec, Ralf ; Aichinger, Thomas ; Basler, Thomas ; Esteve, Romain ; Bergner, Wolfgang ; Kueck, Daniel

Performance and ruggedness of 1200V SiC — Trench — MOSFET


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 1946-0201 ; Electronic ISBN: 978-4-88686-096-5 ; Print ISBN: 978-4-88686-094-1 ; USB ISBN: 978-4-88686-095-8 ;Print on Demand(PoD) ISBN: 978-1-5090-5172-4
DOI: doi:10.23919/ISPSD.2017.7988904
Quelle: 29th International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's (ISPSD), 28 May-1 June 2017, Sapporo, Japan
Freie Schlagwörter (Englisch): SiC MOSFET , Ruggedness

 

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