Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Peters, Dethard* ; Basler, Thomas ; Zippelius, Bernd ; Aichinger, Thomas ; Bergner, Wolfgang ; Esteve, Romain ; Kueck, Dyaniel ; Siemieniec, Ralf
The New CoolSiC(TM)Trench MOSFET Technology for Low Gate Oxide Stress and High Performance
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-3-8007-4424-4 | |
| Quelle: | PCIM Europe 2017; International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management, 16-18 May 2017, Nuremberg, Germany, CD-ROM | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | SiC MOSFET , Gate Oxid Stress , Trench |
