Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Abuogo, James* ; Franke, Jörg ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
Influence of Switching Loss Magnitude on Lifetime During a Switch-Mode Power Cycling Test of SiC MOSFETs
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Print ISSN: 0885-8993; Electronic ISSN: 1941-0107 | |
| DOI: | doi:10.1109/TPEL.2025.3556768 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/document/10947297 | |
| Quelle: | In: IEEE Transactions on Power Electronics. - 40. 2025, 8. - IEEE. 2025, pp. 10555 - 10566 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Bias temperature instability (BTI) , hot carrier effect , lifetime , metallization reconstruction , repetitive unclamped inductive switching , SiC MOSFET , switching losses , switch-mode power cycling test (PCT) |
