Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Heimler, Patrick* ; Günther, Marco ; Künzel, Cesare ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
Influence of thermal interface material using discrete Si-IGBTs and consideration of power cycling conditions
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISSN 0026-2714 | |
| DOI: | doi:10.1016/j.microrel.2023.115089 | |
| URL/URN: | https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0026271423001890 | |
| Quelle: | Microelectronics Reliability. - Elsevier. - 2023, 115089. - 34th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2023, October 2nd-5th, Toulouse, France | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Silicon power devices , Thermal interface material , Power cycling , Discrete devices |
