Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Liu, Xing* ; Li, Xupeng ; Herrmann, Clemens ; Basler, Thomas
The Impact of the Dead-Time on the Reverse Recovery Behavior of SiC-MOSFET Body Diodes
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Förderung: | Sonstiges | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Electronic ISBN: 979-8-3503-9682-9 ; Print on Demand(PoD) ISBN: 979-8-3503-9683-6 ; Electronic ISSN: 1946-0201 ; Print on Demand(PoD) ISSN: 1063-6854 | |
| DOI: | doi:10.1109/ispsd57135.2023.10147719 | |
| Quelle: | 35th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), Hong Kong, 14 June 2023. - IEEE, 2023, pp. 322 - 325 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | SiC-MOSFETs , Body Diode , Reverse Recovery , Switching loss |
