Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
May, Daniel* ; Jbari, Kenza ; Carisetti, Dominique ; Borta-Boyon, Ana ; Garabedian, Patrick ; Ziaei, Afshin ; Abo Ras, Mohamad ; Wunderle, Bernhard
Failure Analysis by Infrared and Thermoreflectance Imaging Applied on Active Devices
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Werkstoffe und Zuverlässigkeit mikrotechnischer Systeme | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Electronic ISBN:978-1-6654-9229-4 ; Print on Demand(PoD) ISBN:978-1-6654-9230-0 ; Electronic ISSN: 2474-1523 ; Print on Demand(PoD) ISSN: 2474-1515 | |
| DOI: | doi:10.1109/therminic57263.2022.9950653 | |
| Quelle: | 28th International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (THERMINIC). - IEEE, 2022 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | infrared , thermoreflectance , thermography , failure analysis , MOSFET , HEMT , non destructive , non invasive | |
Bemerkung: |
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