Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Bäumler, Christian ; Zhang, Bo ; Goller, Maximilian ; Liu, Xing ; Basler, Thomas
Temperature Distribution of an IGBT Chip during Repetitive SwitchingEvents under Consideration of Front-Side Ageing
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISBN: 978-9-0758-1540-5 | |
| Quelle: | EPE'22 ECCE Europe, 2022 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Module temperature measurement , IGBT , Reliability |
