Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Palanisamy, Shanmuganathan* ; Basler, Thomas ; Lutz, Josef ; Künzel, Cesare ; Wehrhahn-Kilian, Larissa ; Elpelt, Rudolf
Investigation of the bipolar degradation of SiC MOSFET body diodes and the influence of current density
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-1-7281-6893-7 ; 978-1-7281-6894-4 ; 1938-1891 ; 1541-7026 | |
| DOI: | doi:10.1109/IRPS46558.2021.9405183 | |
| Quelle: | International Reliability Physics Symposium (IRPS)-2021 (Virtual Conference), 21-25 March 2021 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | 4H-SiC , SiC MOSFET , body diode , DC stress , repetitive surge current stress , bipolar degradation , crystal-defects , stacking faults , thermomechanical failures |
