Ergebnis der Datenbankabfrage
| Nr. | Titel | Autor | Jahr |
|---|---|---|---|
| 1 | Dead Time Dependency of Bipolar Degradation in SiC MOSFETs | Herrmann, Clemens et al. | 2025 |
| 2 | Investigation of the bipolar degradation of SiC MOSFET body diodes and the influence of current density | Palanisamy, Shanmuganathan* et al. | 2021 |
| Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
| Anzahl der Dokumente: | 2 |