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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Kurth, Steffen ; Shaporin, Alexey ; Hiller, Karla ; Kaufmann, Christian ; Gessner, Thomas

Reliability of MEMS Devices in Shock and Vibration Overload Situation


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Smart Systems Integration
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 0277-786X
DOI: doi:10.1117/12.763617
Quelle: Reliability, Packaging, Testing and Characterization of MEMS/MOEMS VII, 21 January 2008 , San Jose, CA, USA. - Proc. of SPIE. - 2008, 6884, S. 688401
Freie Schlagwörter (Englisch): reliability , MEMS , MEMS Devices

 

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