Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Heimler, Patrick* ; Richter, Sandro ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
Reliability of discrete SiC MOSFETs under severe temperature-shock and power cycling tests
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Förderung: | EU | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Print ISSN: 0026-2714 ; Online ISSN: 1872-941X | |
| DOI: | doi:10.1016/j.microrel.2025.115844 | |
| URL/URN: | https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026271425002574?dgcid=author#bi0005 | |
| Quelle: | ESREF Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 23.-26.09.2024, Parma. - Microelectronics Reliability. - 173. 2025, 115844 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Thermal shock test , Power cycling test , Discrete devices , Silicon carbide |
