Springe zum Hauptinhalt
Universitätsbibliothek
Universitätsbibliographie
Universitätsbibliothek 

Ergebnis der Datenbankabfrage

Nr. Titel Autor Jahr
1 Reliability of discrete SiC MOSFETs under severe temperature-shock and power cycling tests Heimler, Patrick* et al. 2025
Aktuelle Seite:
Anzahl der Ergebnisseiten: 1
Anzahl der Dokumente: 1

Soziale Medien

Verbinde dich mit uns: