Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Goller, Maximilian* ; Franke, Jörg ; Lutz, Josef ; Mouhoubi, Samir ; Curatola, Gilberto ; Basler, Thomas
Investigation of the Trapping and Detrapping Behavior by the On-State Resistance at Low Off-State Drain Bias in Schottky p-GaN Gate HEMTs
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISSN print 1012-0394 ; ISSN cd 1662-9787 ; ISSN web 1662-9779 | |
| DOI: | doi:10.4028/p-9feh9p | |
| Quelle: | In: Solid State Phenomena. - Trans Tech Publications, Ltd.. - 360. 2024, S. 9 - 15 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | GaN , HEMT , resistance , trapping , characterization | |
| OA-Lizenz | CC BY 4.0 |
