Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Goller, Maximilian ; Franke, Jörg ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
Reliability Investigations on 650 V Schottky p-GaN Power Gallium Nitride HEMTs
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISBN 978-3-8007-6091-6 | |
| DOI: | doi:10.30420/566091004 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/document/10173107 | |
| Quelle: | PCIM Europe 2023, 09 – 11 May 2023, Nuremberg, 2023 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Reliability , Gallium Nitride HEMTs |
