Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Liu, Xing* ; Huang, Qi ; Deng, Erping ; Bäumler, Christian ; Chen, Jie ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
Influence of Power Cycling Aging to IGBT Hard Switching Behavior
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Förderung: | EU | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-3-8007-5515-8 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/document/9472415 | |
| Quelle: | PCIM Europe digital days 2021; International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management. - VDE, 2021 | |
| Freie Schlagwörter (Deutsch): | Lastwechsel Test , Schaltverhalten , IGBT | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Power Cycling Aging , Hard Switching , IGBT |
