Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Pertermann, Eric ; Lutz, Josef ; Schulze, Hans-Joachim ; Niedernostheide, Franz-Josef ; Felsl, Hans Peter ; Hazdra, Pavel ; Popelka, S. ; Sharma, R.K.
Untersuchung von tiefen Störstellen in SiC-Schottky-Dioden mit frequenzabhängiger Admittanzspektroskopie
Investigation of Deep Levels in SiC-Schottky Diodes with Frequency Resolved Admittance Spectroscopy
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| URL/URN: | doi:10.1109/EPE.2015.7311785 | |
| Quelle: | Power Electronics and Applications (EPE'15 ECCE-Europe), 2015 17th European Conference on, Genf, 2015 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Diode , selenium field-stop layer , reverse recovery , Frequency Resolved Admittance Spectroscopy |
