Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Silaghi, S. D. ; Suzuki, Yu J. ; Gordan, Ovidiu-Dorin ; Himcinschi, C. ; Salvan, G. ; Friedrich, M. ; Kampen, T. U. ; Zahn, Dietrich R. T. ; Cobet, C. ; Esser, N. ; Richter, W. ; Braun, W.
VUV-Spectroscopic Ellipsometry Investigations of DNA Base Layers Grown onto Flat H-Passivated Silicon Surfaces
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, nicht referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0179-4159 | |
| Quelle: | In: BESSY Jahresbericht. - 2003. 2004, S. 209 - 210 |
