Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Liu, Xing* ; Li, Xupeng ; Basler, Thomas
Short Circuit Type II and III Behavior of 1.2 kV Power SiC-MOSFETs
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Electronic ISBN: 978-9-0758-1539-9 ; Print on Demand(PoD) ISBN: 978-1-6654-8700-9 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/document/9907347 | |
| Quelle: | 24th European Conference on Power Electronics and Applications (EPE'22 ECCE Europe), 05-09 September 2022, Hanover, Germany. - Hanover, Germany : IEEE, 2022 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Silicon Carbide (SiC) , MOSFET , Short Circuit , Robustness |
