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Universitätsbibliothek
Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Sharma, A. ; Hoffmann, M.A. ; Matthes, P. ; Busse, S. ; Selyshchev, O. ; Mack, P. ; Exner, H. ; Horn, A. ; Schulz, S.E. ; Zahn, Dietrich R. T. ; Salvan, G.*

Exchange bias and diffusion processes in laser annealed CoFeB/IrMn thin films


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Halbleiterphysik
Dokumentart: Artikel in Fachzeitschrift, referiert
ISBN/ISSN: 0304-8853
DOI: doi:10.1016/j.jmmm.2019.165390
Quelle: In: Journal of Magnetism and Magnetic Materials. - Elsevier BV. - 489. 2019, S. 165390
Freie Schlagwörter (Englisch): CoFeB , Diffusion , Exchange bias , Laser annealing , Magnetic tunnel junction , Spintronic , Tunneling magnetoresistance , X-ray photoemission spectroscopy , Depth profile Magneto-optical Kerr effect , magnetometry

 

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