Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Sharma, A. ; Hoffmann, M.A. ; Matthes, P. ; Busse, S. ; Selyshchev, Oleksandr ; Mack, P. ; Exner, H. ; Horn, A. ; Schulz, S.E. ; Zahn, Dietrich R. T. ; Salvan, G.*
Exchange bias and diffusion processes in laser annealed CoFeB/IrMn thin films
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0304-8853 | |
| DOI: | doi:10.1016/j.jmmm.2019.165390 | |
| Quelle: | In: Journal of Magnetism and Magnetic Materials. - Elsevier BV. - 489. 2019, S. 165390 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | CoFeB , Diffusion , Exchange bias , Laser annealing , Magnetic tunnel junction , Spintronic , Tunneling magnetoresistance , X-ray photoemission spectroscopy , Depth profile Magneto-optical Kerr effect , magnetometry | |
Bemerkung: |
_MA!N_ |
