Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Nadimi, Ebrahim ;
Öttking, Rolf ;
Plänitz, Philipp ;
Trentzsch, Martin ;
Kelwing, Torben ;
Carter, Rick ;
Radehaus, Christian ;
Schreiber, Michael
Deutsche Physikalische Gesellschaft
Oxygen related defects and the reliability of high-k dielectric films in field effect transistors: an investigation beyond density funcitonal theory
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Theoretische Physik (-Theorie ungeordneter Systeme-) | |
| Dokumentart: | Konferenzabstract | |
| ISBN/ISSN: | ISSN 0420-0195 | |
| URL/URN: | http://www.dpg-verhandlungen.de/year/2012/conference/berlin/part/df/session/13/contribution/5 | |
| Quelle: | 76. Jahrestagung der DPG. - Bristol : New Journal of Physics, 2012 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | dielectric films , effect transistors , density functional theory |
