Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Silaghi, S. D.* ; Friedrich, M. ; Scholz, R. ; Kampen, T. U. ; Cobet, C. ; Esser, N. ; Richter, W. ; Braun, W. ; Zahn, Dietrich R. T.
Vacuum Ultraviolet Spectroscopic Ellipsometry Investigations of Guanine Layers on H-Passivated Si(1 1 1) Surfaces
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut 1: | Professur Halbleiterphysik | |
| Institut 2: | Professur Theoretische Physik (-Theorie ungeordneter Systeme-) | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0040-6090 | |
| DOI: | doi:10.1016/j.tsf.2003.11.250 | |
| Quelle: | In: Thin Solid Films. - Elsevier. - 455-456. 2004, S. 505 - 508 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Guanine , Si(1 1 1) , Vacuum ultraviolet spectroscopic ellipsometry , TD-DFT(B3LYP/6-31G(d)) |
