Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Ge, Xinglai ; Liao, Yinda ; Xie, Dong* ; Xu, Zhiliang ; Ke, Qianxia ; Wang, Huimin ; Zhang, Yi ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
Decoupled Degradation Monitoring of IGBT Modules Based on Temperature-Quantified Indicators
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Print ISSN: 0885-8993 ; Electronic ISSN: 1941-0107 | |
| DOI: | doi:10.1109/tpel.2026.3662375 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/document/11373649 | |
| Quelle: | In: IEEE Transactions on Power Electronics. - Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). 2026, S. 1 - 15 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | IGBT , Bond wires , solder layer , degradation monitoring , separation indicators |
