Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Fauth, Leon ; Beckemeier, Christian ; Goller, Maximilian ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas ; Friebe, Jens
Neutron Radiation-Induced Failure Rate of 650 V Lateral GaN Power Devices
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Förderung: | 10.13039/501100001659-Deutsche Forschungsgemeinschaft (Grant Number: EXC 2163/1) | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Electronic ISBN: 979-8-3503-6240-4 ; Print on Demand(PoD) ISBN: 979-8-3503-6241-1 | |
| DOI: | doi:10.1109/wipdaeurope62087.2024.10797418 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/10797418 | |
| Quelle: | 2024 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Europe (WiPDA Europe), 16-18 September 2024, Cardiff. - IEEE, 2024 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | GaN , cosmic radiation , Singe Event Effects |
