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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Heimler, Patrick* ; Schwabe, Christian ; Thönelt, Nick ; Sören, Gesell ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas

Influence of the Gate Voltage during On-Time on the Power Cycling Capability of SiC MOSFETs


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: Print ISBN: 978-3-8007-6262-0
DOI: doi:10.30420/566262274
URL/URN: https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/10654074/authors#authors
Quelle: PCIM Europe 2024; International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management, 11-13 June 2024, Nürnberg, Germany
Freie Schlagwörter (Englisch): Power Cycling , Discrete Power Device , Reliability , Silicon Carbide (SiC) , MOSFET

 

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