Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Gerlach, Martina ; Boldyrjew-Mast, Roman* ; Bruchhold, Franz ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas ; Schwarzmann, Holger
Influence of different test strategies on the power cycling test results of 6.5 kV SiC MOSFETs
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Förderung: | BMFTR | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0026-2714 | |
| DOI: | doi:10.1016/j.microrel.2021.114279 | |
| URL/URN: | https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026271421002456 | |
| Quelle: | In: Microelectronics Reliability. - Elsevier BV. - 126. 2021, 114279 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Silicon carbide MOSFET Power cycling test Junction temperature estimation Bias temperature instability Threshold voltage shift |
