Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Chen, Weinan* ; Deng, Erping ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
Influence of Internal Semiconductor Processes on Errors at Measurement of Thermal Resistance
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-3-8007-5515-8 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/document/9472383 | |
| Quelle: | PCIM Europe digital days 2021; International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management, 3-7 May 2021, Online Conference, 2021 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | IGBT , Thermal resistance , measurement error , pn-junction |
