Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Hinrichs, K.* ; Silaghi, S. D. ; Cobet, C. ; Esser, N. ; Zahn, Dietrich R. T.
Ellipsometry from Infrared to Vacuum Ultraviolet: Structural Properties of Thin Anisotropic Guanine Films on Silicon
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0370-1972 | |
| DOI: | doi:10.1002/pssb.200541154 | |
| Quelle: | In: Physica status solidi (b). - Wiley. - 242. 2005, 13, S. 2681 - 2687 |
