Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Schwabe, Christian* ; Bäumler, Christian ; Yuan,Shuang ; Kowalsky, Jens ; Lutz, Josef
Influence of repetitive short circuit events on the power cycling capability of IGBTs in a molded package
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-3-8007-5245-4 ; 2191-3358 | |
| Quelle: | International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management, PCIM Europe digital days 2020, 07. - 08.07.2020, Nuremberg, pp. 577 - 582. - Berlin, Offenbach : VDE VERLAG GMBH, 2020 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | semiconductor power devices , insulated gate bipolar transistor , power cycling test , short circuit type I , lifetime prediction , thermal simulation , junction temperature estimation |
