Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
May, Daniel* ; Fritzsche, S. ; Cardoso, A. ; Schacht, R. ; Wunderle, Bernhard
IR pulse thermography as failure analytical tool applied to die attach processes
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Werkstoffe und Zuverlässigkeit mikrotechnischer Systeme | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISBN: 978-1-4673-9705-6 | |
| URL/URN: | doi:10.1109/THERMINIC.2015.7389622 | |
| Quelle: | Proc. 21st Therminic Conf. Paris, France, Sept 30 - Oct 2, 2015. - IEEE, 2015 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Cameras , Failure analysis , Microassembly , Microelectronics , Reliability , Silicon , Temperature measurement |
