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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Poshtan, Emad ; Rzepka, Sven ; Silber, Christian ; Wunderle, Bernhard

Accelerated Determination of Interfacial Fracture Toughness in Microelectronic Packages under Cyclic Loading


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Werkstoffe und Zuverlässigkeit mikrotechnischer Systeme
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
URL/URN: doi:10.1109/ECTC.2015.7159800
Quelle: Proc. 55th ECTC Conf., San Diego, CA, USA, May 26-29, 2015. pp. 1524 - 1530. - IEEE, 2015
Freie Schlagwörter (Englisch): subcritical crack growth , isothermal fatigue testing , electronic packaging materials , molding compound

 

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