Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Du, Nan ; Shuai, Yao ; Luo, Wenbo ; Mayr, Christian ; Schüffny, Reneé ; Schmidt, Oliver G. ; Schmidt, Heidemarie
Practical guide for validated memristance measurements
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Materialsysteme der Nanoelektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, nicht referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0034-6748 (print), 1089-7623 (online) | |
| URL/URN: | doi:10.1063/1.4775718 | |
| Quelle: | In: Review of Scientific Instruments . - 84 . 2013 , 2 , S. 023903 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Time measurement Electric measurements Resistors Thin film structure Charged currents Gold Electrical properties Capacitors Electrical resistivity Circuit theory |
