Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Nadimi, Ebrahim ;
Plänitz, Philipp ;
Öttking, R. ;
Schreiber, Michael ;
Radehaus, Christian
IEEE xplore
First-principles investigation of the leakage current through strained SiO2 gate dielectrics in MOSFETs
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Theoretische Physik (-Theorie ungeordneter Systeme-) | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-1-4577-0430-7 | |
| URL/URN: | doi:10.1109/SCD.2011.6068768 | |
| Quelle: | Seminconductor Conference Dresden (SCD). - digital Library, 2011 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Components , Circuit , Devices & Systems , Computing & Processing |
