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Nr. Titel Autor Jahr
1 An alternative way to determine Young´s modulus of thin films Herrmann, Matthias et al. 2010
2 Das Konzept des effektiven Indenters für die Ermittlung des Elastizitätsmoduls und der Fließgrenze dünner Schichten Herrmann, Matthias 2010
3 Determination of Young's modulus of thin films using the concept of the effective indenter Herrmann, Matthias et al. 2010
4 Influence of bias voltage on the structure and deposition mechanism of diamond-like carbon films produced by RF (13,56MHz) CH4 plasma Ouchabane, Mohamed et al. 2010
5 Determination of Young´s modulus and yield strength of porous low-k dielectric films by nanoindentation under complete consideration of the substrate influence Herrmann, Matthias et al. 2009
6 Influence of Intrinsic stress in the Measurement of the Onset of Yielding for Thin Films Using Depth-Sensing Spherical Indentation Herrmann, Matthias et al. 2009
7 On the usage of the effectively shaped indenter concept for analysis of yield strength Herrmann, Matthias et al. 2009
8 Optimierung der Isolatorschichtabscheidung für metallbasierte Piezomodule Peter, Siegfried et al. 2009
9 Determination of yield stress and elastic modulus under complete consideration of substrate influence demonstrated on a-C:H films Herrmann, Matthias et al. 2008
10 Mechanical Properties and Deformation of CrN and Cr/CrN Coatings During Nanoindentation: Experiments and Theoretical Calculations Daniel, Rostislav et al. 2008
11 Study of nano-mechanical properties for thin porous films through instrumented indentation : SiO2 low dielectric constant films as an example Herrmann, Matthias et al. 2008
12 Transmission electron microscopy studies and simulations of the indentation response of superelastic fullerenelike carbon nitride thin films Neidhardt, J. et al. 2008
13 Charakterisierung mechanischer Eigenschaften von Schichtsystemen und Oberflächen am Beispiel von Funktions- und Schutzschichten auf Kunststoffen Herrmann, Matthias et al. 2007
14 Entwicklung von Isolatorschichten für metallbasierte Piezomodule Peter, Siegfried et al. 2007
15 Properties of ITO films prepared by reactive magnetron sputtering Kleinhempel, Ronny et al. 2007
16 Determination of Youngs modulus and yield stress of porous low-k materials by nanoindentation Herrmann, Matthias et al. 2006
17 Substrate influence in Young´s modulus determination of thin films by indentation methods: Cubic boron nitride as an example Richter, Frank et al. 2006
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