Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Dash, Sarthank Swaroop ; Lezhi, Hu ; Herold, Christian ; Arigita, Javier ; Basler, Thomas
Three-Level Gate Driver for Slew Rate Control in Reliability-OrientedVoltage Switching Tests
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-3-8007-6716-8 | |
| DOI: | doi:10.30420/566716168 | |
| Quelle: | E-Ressource International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management, PCIM Conference 2026, 9-11 June 2026, Nuremberg. - Berlin, Offenbach : VDE VERLAG GMBH, 2026 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | gate driver , reliability , SiC MOSFET , qualification , dv/dt |
