Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Hein, Lukas* ; Heimler, Patrick ; Lentzsch, Tobias ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
Advanced power cycling test strategies on discrete SiC MOSFETs in different operating modes and the impact on lifetime
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Print ISSN: 0026-2714 ; Online ISSN: 1872-941X | |
| DOI: | doi:10.1016/j.microrel.2025.115786 | |
| URL/URN: | https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026271425001994?via%3Dihub | |
| Quelle: | In: Microelectronics Reliability. - Elsevier BV. - 170. 2025, 115786. - ESREF Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 23.-26.09.2024, Parma | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Reliability , SiC MOSFET , Discrete power electronic , Power cycling test , Test strategies , Lifetime modelling , Failure analysis | |
| OA-Lizenz | CC BY 4.0 |
