Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Abuogo, James* ; Lutz, Josef* ; Basler, Thomas*
Power Cycling Reliability of Paralleled IGBT Chips Heated with Conduction and Switching Losses
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| DOI: | doi:10.34746/epe2025-0063 | |
| URL/URN: | https://utc.hal.science/hal-05077860v1 | |
| Quelle: | The 26th European Conference on Power Electronics and Applications, GDR SEEDS France & EPE Association, Mar 2025, Paris, France., 2025 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Switch-mode power cycling test , DC-mode power cycling test , IGBT module , paralleled chips , DBC layout design , thermal imbalance, lifetime model |
