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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz

Tuncay, Sebnem* ; Zeng, Guang ; de Falco, Giuseppe ; Basler, Thomas

Avalanche ruggedness and failure mode of SiC trench MOSFETs

Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 0026-2714
DOI: doi:10.1016/j.microrel.2023.115196
Quelle: In: Microelectronics Reliability as part of special issue of 34th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2023. - Elsevier BV. 2023, 115196
Freie Schlagwörter (Englisch): Avalanche , SiC MOSFET , Unclamped Inductive Switching


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