Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Schwabe, Christian* ; Thönelt, Nick ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
High cycle fatigue testing of Silicon IGBT devices under application-close conditions
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Print ISSN: 0885-8993 ; Electronic ISSN: 1941-0107 | |
| DOI: | doi:10.1109/TPEL.2023.3296269 | |
| Quelle: | In: IEEE Transactions on Power Electronics. - IEEE. 2023 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | IGBT , high cycle fatigue , lifetime estimation , Power cycling , reliability |
