Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Liu, Xing* ;
Basler, Thomas
Investigation of the Gate Voltage Overshoot of IGBTs Under Short Circuit Type II Condition
| Universität: |
| Technische Universität Chemnitz |
| Institut: |
| Professur Leistungselektronik |
| Dokumentart: |
| Artikel in Fachzeitschrift, referiert |
| ISBN/ISSN: |
| Print ISSN: 0018-9383 ; Electronic ISSN: 1557-9646 |
| DOI: |
| doi:10.1109/ted.2023.3247371 |
| Quelle: |
| In: IEEE Transactions on Electron Devices. - Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). - 70. 2023, 4, S. 1763 - 1768 |
| Freie Schlagwörter (Englisch): |
| Insulated gate bipolar transistor (IGBT) , Miller effect , short circuit , TCAD simulation |
